EM8100

Главная > Каталог > Сканирующая электронная микроскопия > Сканирующая электронная микроскопия > EM8100

EM8100

Особенности

  • Высокое разрешение обеспечивает измерения менее нанометра при низком напряжении
  • Коническая объективная линза низкой аберрации
  • Высокий ток пучка
  • Автоматизированная система управления
  • Сверхбольшая камера для образцов
  • Технология ускорения трубки

Применение

Научные исследования и испытания Промышленное тестирование
  • Параметры
  • Описание
  • Размеры
  • Графики
  • Скачать
  • Разрешение
    SE 0,9 нм при 30 кВ
    Увеличение
    1x-3000000x, оптическое увеличение 1x-100x
  • Электронная пушка
    Автоэмиссионная электронная пушка Schottky
    Ускоряющее напряжение
    0,2 …30 кВ
  • Конфигурация детектора
    Высоковакуумный детектор вторичных электронов, инфракрасная ПЗС (CCD)-камера, полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния (опция)
    Стабилизация образца
    Пятиосевой автоматический столик для большого образца с функцией предупреждения столкновений
    • Электронная оптическая система высокого разрешения Эффективный и удобный пользовательский интерфейс Высокопроизводительная система обнаружения сигнала

    Имя файла Тип Дата Размер файла