EM8200

Главная > Каталог > Сканирующая электронная микроскопия > Сканирующая электронная микроскопия > EM8200

EM8200

Особенности

  • Новое поколение объективов с низкой аберрацией
  • Предметный столик с замедлением
  • Низковольтная визуализация с высоким разрешением
  • Детектор Inlens с минимальными помехами
  • Автоматический детектор обратного рассеяния
  • Новый дизайн пользовательского интерфейса
  • Дополнительные функции в программном обеспечении

Применение

разработки новых материалов производство полупроводников, электронных компонентов и т.п.
  • Параметры
  • Описание
  • Размеры
  • Графики
  • Скачать
  • Разрешение
    SE 0,8 нм при 15 кВ, 1,5 нм при 1 кВ
    Увеличение
    1x-1600000x; Оптическое увеличение 1x-100x
  • Электронная пушка
    Автоэмиссионная электронная пушка Schottky
    Ускоряющее напряжение
    0,2 …30 кВ
  • Конфигурация детектора
    Высоковакуумный вторичный электронный детектор, полупроводниковый четырехсегментный детектор обратного рассеяния, инфракрасная ПЗС (CCD)-камера, детектор Inlens
    Стабилизация образца
    Пятиосевая автоматическая для больших образцов
    • Электронная оптическая система высокого разрешения Эффективный и удобный пользовательский интерфейс Высокопроизводительная система обнаружения сигнала

    Имя файла Тип Дата Размер файла